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降落数值测定仪的研发是有关国家食品质量检测技术的项目，由商业部四川粮食储藏科学研究所和北京市新技术应用研究所共同完成的。于1989年元月在北京，由商业部科技司主持，通过鉴定。降落数值测定仪是测定谷物中a——淀粉酶活性的一种专用仪器，应用降落数值测定仪测得的降落数值是评定小麦粉工艺、烘焙品质的一项重要指标。
降落数值测定仪是根据国际标准ISO 3093—1982“谷物降落数值测定法”对仪器的技术要求，吸收了国外同类产品的优点研制而成。经鉴定会现场测试和对有关技术资料的审议，专家们认为降落数值测定仪主机及主要部件的技术性能指标符合国际标准规定的技术要求，达到了国外同类仪器的水平。建议批量生产以满足市场需求。
降落数值测定仪是测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物，尤其是小麦和小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的必备仪器。
仪器名称：降落数值测定仪
仪器型号：FN-II
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