叶面积测量仪直接和间接测量介绍

叶面积测定仪作为一种直接测量叶面积参数的仪器，其可以直接测量的叶面积参数包括叶片质量、形状、长宽等参数，再转换为面积。这是经典的、成熟的LAI测量方法，具有最高的测量精度。其测量值通常被称为真实叶面积指数，是间接测定的重要对比方法。该方法包括叶片采集和测量2个步骤。叶片采集方法有落叶箱法、代表植株法、区域采样法等；测量方法有格点法、方格法、描形称重法以及扫描和摄影等仪器测定法。由于直接测量对植物本身具有一定的破坏性，且必须人工采集叶片样品，费时耗力，采样不一定具有代表性，叶面积测定仪一般只用作科研，故实际测量和研究中常采用间接测量法。

间接测量法与直接测量法相比，叶面积测定仪能够更快、更大范围地对LAI进行测量，并且不对植物产生伤害，因此得到迅速发展和广泛应用。但是，采用这种方法得到的LAI往往偏低，不同类型的冠层低估范围通常在25%～50%。虽然目前有许多方案能克服由于间接测量带来的偏差，但并没有根本地解决此类问题的产生。

仪器名称：叶面积测量仪

仪器型号：YMJ

叶面积测量仪  http://www.plant17.net/