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叶片面积测量的方式有很多，按照对叶片的损伤情况可分为无损测量和有损测量。有损测量必须在采摘叶片后进行，不仅取样不便，破坏了植物体，还要花费大量时间，更无法进行对同一叶片进行动态测定。而叶面积仪的无损测量方法可以在叶片非离体的情况下，对同一植株叶面积进行重复测量，取多次测量的平均值，这样就可以避免不同品种之间的误差。一般的非破坏性估测叶面积是用系数法和直线回归法，即测量叶片长与宽，并得出长和宽与实际叶面积之间的相关关系。
关于叶面积与测量值即叶长、宽和长与宽积之间关系在其他作物上已有较多报道，例如，对黄瓜、南瓜、葡萄、甜瓜和板栗等。但是，有关青椒叶面积非破坏性测定方法的研究却报道很少。因此，本试验以在温室栽培不同青椒品种为试材，研究其叶长、叶宽及叶长×叶宽与实测叶面积之间的关系，建立普适性应用模型，并验证这些模型的可靠性和精确性，为青椒叶面积的非破坏性测定提供依据和方法。建立青椒叶面积非破坏性测定方法有其必要性和实用性。本研究以青椒为试验材料，通过叶面积仪探讨青椒叶面积非破坏性测定的可行性和科学性。
仪器名称：叶面积仪
仪器型号：YMJ-A
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