叶面积测定仪利用数学模型测量叶面积

　　植物生长受到叶片面积大小的影响，科研人员通过研究发现叶片面积直接决定了植物光合物质的积累速度。因此，植物的生长状况可通过叶面积预测。使用叶面积测定仪测量叶片的面积，是研究光合作用、物质生产及树体结构的基础，也是研究与植物叶片面积相关的生理生化指标首要解决的问题。例如，对小面积叶片的光合速率进行测定时，需要知道这些叶片的实际面积，以此换算出标准光合速率。叶面积指数是衡量植株的群体状况和光能利用的重要指标。这使得叶面积测定成为必不可少。

　　近年来，利用数学模型来预测叶面积已成为十分普遍的方法。实验试图通过叶面积测定仪建立叶长、叶宽与叶面积的回归方程，探求一种方便、快捷、误差小且不影响植株生长的测量方法求叶面积的方法有很多，如方格法、光电面积仪法、鲜重法、系数法等，在叶片挂树的情况下难以操作，测定方法较烦琐，光电面积仪法需要贵重的仪器。相比之下，叶面积测定仪的线性回归的方法一旦建立了，可迅速测量大量的挂树的叶片面积，精确度很高，值得提倡。

仪器名称：叶面积测定仪

仪器型号：YMJ

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